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EM5030 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；檢測模塊附近的磁場環境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場探頭測量可以很方便地實現定位功能。通過配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統測試靈敏度。